Rumah > Penyelesaian > Kandungan

Perbezaan antara CMM dan ukuran biasa (II)

Nano (Xi'an) Metrologi Co., Ltd | Updated: Oct 17, 2016
Source:

Kedudukan ralat ini dikaitkan dengan faktor-faktor jumlah sebenar mengenai perubahan unsur-unsur yang diukur. Mercu tanda bahagian-bahagian yang sebenar juga mempunyai bentuk kesalahan, oleh itu ia perlu mensimulasikan unsur-unsur penanda aras dalam pengukuran konvensional, yang biasanya menggunakan permukaan dengan bentuk cukup.

Bila menggunakantiga menyelaras Mesin pengukur, kita hanya perlu mengukur beberapa titik menyelaras kerja-piece, maka ralat selari boleh dikira oleh komputer. Mengukur ketepatan bergantung pada ketepatan CMM, ia tiada kena mengena dengan artifak-artifak tempat, jadi lebih dekat dengan keadaan sebenar bahagian yang diuji.

Permukaan pengukuran boleh dibahagikan kepada dua jenis: salah satu adalah teori yang diukur bentuk permukaan telah diketahui, kemudian menilai permukaan sebenar, malah ia sering memerlukan mengukur lengkungkan kesilapan profil permukaan; Satu lagi ialah teori bentuk permukaan melengkung adalah tidak diketahui, mengikut data sebenar diukur, pemasangan permukaan teori. Kaedah konvensional terutamanya digunakan untuk jenis pengukuran yang pertama.

Semasa proses pengukuran dengan menggunakan CMM, kami hanya perlu untuk meletakkan bahagian untuk diuji pengetahuan mereka mengenai perundangan, betul kedudukan dan penjajaran, mengukur beberapa titik dalam mod manual pengukuran dan membandingkan keputusan yang diukur dengan teori kontur.

Kaedah konvensional pengukur mempunyai bukan sahaja repeatability miskin tetapi pengukur kecekapan rendah. Tiga Mesin pengukur menyelaras adalah lebih sukar untuk menguasai daripada alat pengukur yang konvensional, tetapi ia boleh mengukur saiz geometri dan bentuk pada masa yang sama. Dalam kedudukan ralat pengukuran, kita tidak perlu menggunakan alat bantuan untuk simulasi penanda aras. Lebih-lebih lagi CMM adalah denganpengukur yang berteknologidan mengukur kecekapan, yang merupakan satu kemestian dalam pembuatan ujian kualiti.


Sila maklumkan kami jika apa-apa quesrions atau nasihat

E-mel:Overseas@CMM-nano.com

Siasatan
Your comments are welcome!
For more information about our brand and products, please feel free to contact us!
Please enter your email address:
Hubungi kami
Address: No.55, Gongye No.2 Road, Xi'an National Aerospace Awam Base, Xi'an City, Provinsi Shaanxi, China
Tel: +862981538937
Fax: +862989233633
E-mail: overseas@cmm-nano.com
Copyright © Nano (Xi'an) Metrology Sdn Bhd Semua Hak Cipta Terpelihara.