Pembangunan alat mengukur dimensi 3D (III)

Nano (Xi'an) Metrologi Co., Ltd | Updated: Oct 27, 2016
Source:

D. bukan sentuhan pengukuran

Kaedah bukan sentuhan untuk mengukur kerja-piece tiga dimensi adalah terutamanya merujuk kepada kaedah optik. Terdapat kehadiran mengukur berkuat kuasa di dalamukuran hubungan tradisionalKaedah. Ia memerlukan jejari pampasan kuar jika dalam masa yang lama pengukur. Tetapi teknologi optik ukuran bukan sentuhan berjaya menyelesaikan masalah-masalah di atas, dan dihargai kerana tindak balas yang tinggi, resolusi tinggi. Dengan semua jenis komponen berprestasi tinggi seperti caj – coupled peranti laser semikonduktor, penderia imej, kemunculan kedudukan peralatan yang sensitif dan sebagainya, teknologi optik ukuran bukan sentuhan mendapat pembangunan pantas. Dalam kebelakangan ini, semua jenis ofoptical pengukuran teknologi telah mencapai kemajuan besar dalam bidang tertentu.

Laser yang mengimbas kaedah diterima pakai di optik terkenal segi tiga, dengan peranti coupled – caj atau dengan erti kata jawatan sensitif peranti untuk menjalankan pemerolehan imej digital laser. Ia berdasarkan sensor CCD, yang mengelakkan bunching titik refleksi dan maka cahaya, dan resolusi pixel yang tunggal adalah tinggi. Jadi menggunakan CCD boleh mendapatkan ketepatan pengukur yang lebih tinggi.

Secara umum, untuk menjamin yangketepatan yang tinggipengukuran, penentukuran hendaklah diuji pada permukaan yang sama dengan permukaan objek.


Sila infrom kami jika ada soalan atau nasihat

E-mel:Overseas@CMM-nano.com

Siasatan
Your comments are welcome!
For more information about our brand and products, please feel free to contact us!
Please enter your email address:
Hubungi kami
Address: No.55, Gongye No.2 Road, Xi'an National Aerospace Awam Base, Xi'an City, Provinsi Shaanxi, China
Tel: +862981538937
Fax: +862989233633
E-mail: overseas@cmm-nano.com
Copyright © Nano (Xi'an) Metrology Sdn Bhd Semua Hak Cipta Terpelihara.